Caracterização Inteligente em Nanoescala.

• Da Amostra ao Resultado de Forma Direta: Medições rápidas, consistentes e confiáveis com mínimo esforço, garantidas pelo design SMART do Nano-inXider, que realiza alinhamento automático, aquisição e processamento de dados.
• Medições Precisas com Alto Alcance Dinâmico: O instrumento conta com aquisição de dados sem beamstop e tecnologia Clean Beam, garantindo altas razões sinal-ruído, mesmo para amostras com baixo espalhamento.
• Dados Simultâneos da Escala Atômica à Nanoescala: Analise características estruturais em múltiplas escalas de comprimento em uma única medição. Não há necessidade de medições separadas de SAXS e WAXS—o sistema de detecção dupla captura informações desde estruturas atômicas até nanométricas em uma única exposição.