Nossos sistemas de banda larga para espectroscopia de material dielétrico e de impedância cobrem uma faixa de frequência de mais de 16 décadas, de 3 μHz a 3 GHz.

A maioria dos sistemas opera no domínio da frequência e mede diretamente a impedância complexa de um capacitor de amostra em função da frequência, temperatura, tensão CA, polarização CC, pressão e tempo (ou qualquer combinação dessas quantidades até 4 dimensões). A partir da impedância da amostra, os outros parâmetros dielétricos, como função dielétrica complexa ou condutividade complexa, são calculados.